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                            精密自動測長機 SQ-9000-3D
                            適用于

                            標準搭載功能

                            畫像處理功能
                            使用本公司獨創圖像處理技術識別邊緣部分,達到對頂部和底部的高
                            精度測定。
                            DRD測定
                            只需將數值輸入即可展開測定程序。
                            3D測定功能 使用聚焦法(Deptf of Focus)測定方式
                            最大測定有效范圍 1000(X)×1250(Y)×60(Z)mm
                             

                             

                            規格選擇 

                            4級倍率顯微鏡

                            倍率標準采用(1x,2x,3x,4x,)以及(2x,4x,6x,8x,)形式。

                            CCD鏡頭

                            可選擇使用1/2CCD黑白攝像頭或1/2CCD彩色攝像頭。

                            照明系統

                            LED照明標準規格可選同軸照明、環形照明或透射照明。

                             

                            規 格

                            • 測長有效范圍(XxYxZ)

                              700 × 900 × 60mm

                            • 最大測長物尺寸(XxYxZ)

                              1000 × 1250 × 60mm

                            • 測定物最大厚度

                              60mm

                            • 最小讀數單位

                              0.1 μ m

                            • 測定精度(X,Y)

                              (U1)3+L/250 μ m (U2)4+L/230 μ m

                            • 測定精度(Z)

                              1.5+4L/1000 μ m

                            • 反復測定精度(X,Y)

                              σ =0.3μ m

                            • 最大驅動速度(X,Y)

                              200mm/秒

                            • 位置檢出器

                              非接觸型光學式線性比例尺

                            • 電源

                              1φ 100V 15A

                            • 機器尺寸(WxDxH)

                              本體:1360×1623×1260mm
                              控制器:600×1255×830mm

                            • 本體重量

                              1250kg

                            • ※ 可選項

                            工廠選項

                            檢索模式功能

                            可通過在目標圖像上登錄測量點的方式。

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